一、概述

GB/T1409-2006塑料薄膜介質損耗因數測試儀是具有多種功能和高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數據傳輸和保存的各種要求。

GDAT-S系列產品是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試強有力的工具。其超高速的測試速度使其特別適用于自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。

GB/T1409-2006塑料薄膜介質損耗因數測試儀是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器，其 0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。

二、產品用途

測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數可以直接不用人工計算得到。

測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行 高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(選配）, 三種選項它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

三、產品優勢

1. 變壓器參數測試功能

2. 高測試速度:13ms/次

3 電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能

4. V、I 測試信號電平監視功能

5.內部自帶直流偏置源

6. 可外接大電流直流偏置源

7.可直接得到介電常數和介質損耗 不用人工計算

8.可測試電阻

9. 4.3寸TFT液晶顯示

10. 中英文可選操作界面

11. 高5MHz的測試頻率

12. 平衡測試功能

13. 10點列表掃描測試功能

14. 30Ω、50Ω、100Ω可選內阻

15. 內建比較器，10檔分選和計數功能

16. 內部文件存儲和外部U盤文件保存

17.量數據可直接保存到U盤

18. RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

19. 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。

20. 介電常數測量范圍可達1～105

四、ε和D性能

▶固體絕緣材料測試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測試。

▶ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

▶ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

▶測試參數 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

▶測試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進

▶測試信號電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

▶輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

▶基本準確度 ;0.1%

五、顯示范圍

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

六、顯示范圍

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

▶測量速度 ：快速，200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 。中速， 25次/s, 慢速: 5次/s。

▶校準功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準

▶等效方式 :串聯方式, 并聯方式

▶量程方式:自動, 保持

▶顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

▶觸發方式 :內部, 手動, 外部, 總線

▶內部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

▶置源 :電流模式（內阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

▶比較器功能:10檔分選及計數功能

▶顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示

▶存儲器 :可保存20組儀器設定值

▶USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

▶接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

▶工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數字合成，

▶精度：±0.02%

▶電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數顯

▶電容測量基本誤差：±0.05%

▶損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數顯

▶介電常數測試裝置（含保護電極）： 精密介電常數測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。

▶它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

▶微分頭分辨率：10μm

▶高耐壓：±42Vp（AC+DC）

▶電纜長度設置：1m

▶高使用頻率：5MHz （選配）

六、設備標準配置

試驗主機 一臺

試驗電極 一套

數據連接線 一條

電源線 一條

說明書 一份

合格證 一份

保修卡 一份

七、環境

（1）請不要在多塵、多震動、日光直射、有腐蝕氣體下使用。

（2）儀器正常工作時應在溫度為 0℃～40℃，相對濕度≤75%，因此請盡量在此條件下使用儀器，以保證測量的準確度。

（3）本測試儀器后面板裝有散熱裝置以避免內部溫度上升，為了確保通風良好，切勿阻塞左右通風孔，以使本儀器維持準確度。

（4）本儀器已經經過仔細設計以減少因 AC 電源端輸入帶來的雜波干擾，然而仍應盡量使其在低噪聲的環境下使用，如果無法避免，請安裝電源濾波器。

（5）儀器長期不使用，請將其放在原始包裝箱或相似箱子中儲存在溫度為 5℃～40℃， 相對濕度不大于 85%RH 的通風室內，空氣中不應含有腐蝕測量儀的有害雜質，且應避免日光直射。

儀器特別是連接被測件的測試導線應遠離強電磁場，以免對測量

八、使用測試夾具

儀器測試夾具或測試電纜應保持清潔，被測試器件引腳保持清潔，以保證被測器件與夾具接觸良好。

將測試夾具或測試電纜連接于本儀器前面板的 Hcur、Hpot、Lcur、Lpot 四個測試端上。對具有屏蔽外殼的被測件，可以把屏蔽層與儀器地“┴"相連。

注：沒有安裝測試夾具或測試電纜時，儀器將顯示一個不穩定的測量結果。

九、預熱

（1）為保證儀器精確測量，開機預熱時間應不少于 15 分鐘

（2）請勿頻繁開關儀器，以引起內部數據混亂。

十、儀器的其它特性

（1）功耗：消耗功耗≤80VA。

（2） 外形尺寸（W*H*D）：400mm*132mm*385mm；

（3） 重量：約 10kg；

GDAT-S采用了 320×240 液晶顯示屏，顯示屏顯示的內容被劃分成如下的顯示區域，

1)顯示頁面區域

該區域指示當前頁面的名稱。

2)文件域

把光標移到該區域，可進行文件管理操作。文件管理操作包括：加載、保存和刪除。

3)工具域

一些不常用的功能，在顯示頁面沒有相應的設置域，被列入工具域中。

4)軟鍵區域

該區域被用于顯示軟鍵的功能定義。軟鍵的定義隨光標所在的域的位置不同而具有不同功能的定義。

5)測量結果/條件顯示區域

該區域顯示測試結果信息和當前的測試條件。

6)助手及數據輸入區域

該區域用于顯示系統提示信息以及用戶數據輸入信息。