在材料科學與電子制造領域，準確測量絕緣材料的‌介電常數(ε)‌ 與‌介質損耗角正切(D或tanδ)‌，是評估其儲能效率、絕緣可靠性與頻率響應特性的關鍵。GDAT-S介電常數試驗儀，作為一套集‌高頻阻抗分析儀‌與‌專用測試裝置‌于一體的智能化系統，正以其高精度、高效率的特性，全面革新傳統的復雜測試流程。本概述旨在提供一篇約4000字的技術與應用精華解讀。

一、 產品核心定位與標準遵循‌
GDAT-S系統本質上是一個 ‌“上下位同時檢測”‌ 的自動測試方案。它由‌高頻阻抗分析儀主機、平板電容器測試裝置及標準介質樣品‌組成，無需人工干預計算，即可直接讀取介電常數(ε)和介質損耗(D)的終結果，實現了從手動測量到一鍵化智能測試的跨越。

核心測試參數‌：系統專業用于評估絕緣材料的‌介電常數（ε，相對介電常數）‌和‌介質損耗角（D）‌。其中，ε反映材料儲存電能的能力，D則表征材料在交變電場中的能量損耗程度。這兩個參數是決定高頻電路性能、絕緣材料選型和電容器設計的基礎物理量。
嚴格標準符合‌：儀器設計嚴格遵循以下國際國內權威標準，確保測試結果的廣泛認可性：
GB/T 1409-2006‌《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數的方法》
ASTM D150‌ 美國材料與試驗協會標準
IEC 60250‌ 國際電工委員會方法
核心工作頻率‌：‌20Hz ~ 2MHz（標準配置）‌，并可‌選配擴展至5MHz‌。這一寬頻范圍覆蓋了從工頻電源到中高頻通信應用下的材料性能評估需求。
二、 主要性能與規格參數集覽‌
GDAT-S的技術優勢體現在其精密的硬件指標與豐富的軟件功能上。

1. 核心性能參數‌

性能指標‌ ‌規格說明‌
核心功能‌ 直接測量絕緣材料的介電常數(ε)和介質損耗(D/tanδ)
符合標準‌ GB/T 1409-2006, ASTM D150, IEC 60250
頻率范圍‌ 20Hz ~ 2MHz (標準)，可‌選配至5MHz‌
ε測量范圍‌ ‌1 ~ 10‌ (可達十萬)
D測量范圍‌ ‌0.00005 ~ 0.1‌
ε精度@10kHz‌ ‌±2%‌
D精度@10kHz‌ ‌±5% ±0.0001‌
電容(Cp)分辨率‌ ‌0.00001pF‌ (六位數顯)
D值顯示位數‌ 6位
高測試速度‌ ‌13ms/次‌ (快速模式)
測試參數‌ C, L, R, Z, Y, X, B, G, D, Q, θ, DCR
輸出阻抗‌ 10Ω, 30Ω, ‌50Ω‌, 100Ω 可選
內部DC偏置源‌ 電壓: -5V ~ +5V； 電流: -100mA ~ +100mA
顯示屏‌ 4.3英寸TFT液晶，中英文操作界面
數據接口‌ USB, LAN, RS232C, HANDLER, GPIB(選件)
2. 測試裝置（平板電容器）規格‌

樣品尺寸‌：適用于直徑‌φ10mm ~ φ56mm‌、厚度‌< 10mm‌的片狀試樣。
測試方法‌：支持‌接觸電極法、薄膜電極法和非接觸法（空氣隙法）‌，可適應軟材料、薄膜及表面不平整的試樣。
微分頭分辨率‌：‌10μm‌，可精確調節電極間距。
高使用頻率‌：‌5MHz‌（選配，與主機高頻能力匹配）。
三、 產品核心優勢與智能化功能‌
GDAT-S系列之所以稱為“系統”，在于其集成了高度智能化的特性，遠超傳統測試儀。

自動化與計算優勢‌：系統能直接測量并計算終結果，‌無需人工計算‌，避免了人為計算錯誤，極大提升了測試效率與數據一致性。
高頻寬與高精度‌：‌高5MHz的測試頻率‌（可選）配合高分辨率，滿足了高頻材料研發需求。‌0.00001pF的電容分辨率‌和‌6位D值顯示‌，確保了ε和D值的測量精度與重復性。
豐富的擴展測試能力‌：
內置比較器(分選器)‌：提供10檔分選（BIN）及計數功能，適用于生產線的快速質量篩查與合格品/不合格品分選。
列表掃描功能‌：支持設定多達10個頻率點的自動掃描，快速繪制材料的頻率特性曲線。
自動電平調整(ALC)‌：自動優化測試信號，確保在不同頻率和阻抗下均能獲得高信噪比數據。
變壓器測試功能‌與‌平衡測試功能‌：擴展了儀器在磁性元件和差分結構測試方面的應用。
強大的數據管理與連接‌：
測量數據可直接保存至U盤，內部可存儲20組儀器設定狀態。
提供USB、LAN、RS232C、GPIB（選件）等多種接口，便于連接計算機、組建自動化測試系統或接入工廠網絡。