一、產品概述與技術原理

1.1 產品簡介

‌介電常數測試儀 絕緣材料 電瓷 電容器是基于“高頻阻抗分析儀+精密平板電容器測試裝置"的全自動測試系統，主要用于絕緣材料、電瓷、電容器等的介電性能檢測。其核心原理是通過測量試樣插入平板電容器前后的電容值（Cp）與損耗值（D）變化，由內置處理器直接運算并顯示介電常數（ε）和介質損耗角正切（tanδ），全程無需人工干預，提升測試效率與可靠性‌。

1.2 核心特點

‌全自動測試‌：上下位機同步檢測，一鍵操作直接讀取介電常數（ε）和損耗（D）結果。


‌高精度與寬范圍‌：基本精度達0.05%，介電常數測量范圍1~10，損耗因子（D）0.00001~9.99999。


‌寬頻測試能力‌：工作頻率覆蓋20Hz至2MHz（標配），可選配擴展至5MHz，滿足介電頻譜分析需求。


‌多國標準兼容‌：遵循GB/T 1693-2007、GB/T 1409-2006、IEC 60250及ASTM D150等標準‌。


‌智能便捷‌：4.3寸TFT中英文液晶顯示，支持USB、LAN、RS232C等接口，便于數據存儲與自動化集成。


二、主要技術參數與性能指標

2.1 測量系統性能

‌測試參數‌：介電常數（ε）、介質損耗角正切（tanδ/D）。


‌測試頻率‌：20Hz~2MHz（標準），擴展可選5MHz，分辨率10mHz。


‌測試速度‌：13ms/次，支持快速（200次/秒）、中速、慢速模式。


2.2 阻抗分析儀核心參數（GDAT-S）

‌基本精度‌：0.1%。


‌測試功能‌：支持Cp-D、Ls-Q、R-X等20余種參數組合。


‌直流偏置‌：電壓-5V~+5V，電流-100mA~+100mA；輸出阻抗可選30Ω、50Ω等。


2.3 精密介電常數測試裝置（平板電容器）

‌試樣規格‌：直徑φ10mm~φ56mm，厚度<10mm片狀試樣。


‌測試方法‌：接觸電極法、薄膜電極法、非接觸法，適配軟質/表面不平整材料。


‌機械精度‌：微分頭分辨率10µm，確保電極間距精確可調。


2.4 系統配置

包含介電常數測試儀 絕緣材料 電瓷 電容器、平板電容器測試電極、數據連接線、說明書等。

三、產品核心優勢與應用價值

3.1 標準符合性

采用平板電容器法（三電極系統），符合GB/T 1693-2007等標準，自動排除人為計算誤差，數據可直接用于絕緣材料（如聚乙烯）的入廠檢驗與質量認證‌23。

3.2 效率與自動化提升

‌一鍵操作‌：直接顯示結果，省去人工計算；高速測量支持批量篩查。


‌數據管理‌：U盤存儲數據，內置20組設定文件；支持HANDLER、GPIB等接口，可集成自動化產線。


3.3 數據精準可靠

‌高精度‌：6位數顯Cp和D值，0.05%電容精度，確保重復性與準確性。


‌校準功能‌：支持開路、短路、負載校正，消除夾具與引線分布參數影響。


3.4 應用領域

‌電力絕緣‌：聚乙烯、交聯聚乙烯、環氧樹脂、變壓器油等介電評估。


‌電子材料‌：PCB基材、微波陶瓷、半導體封裝材料的高頻介電分析。


‌科研與質檢‌：高分子材料極化機理研究、老化壽命評估及失效分析‌